| Numero di parte | SN74BCT8373ANT |
|---|---|
| Stato parte | Obsolete |
| Tipo di logica | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Tensione di alimentazione | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Numero di bit | 8 |
| temperatura di esercizio | 0°C ~ 70°C |
| Tipo di montaggio | Through Hole |
| Pacchetto / caso | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 24-PDIP |
| Peso | - |
| Paese d'origine | - |
| Immagine | Numero di parte | Produttori | Descrizione | vista |
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SN74BCT125AD | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Dettagli |
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SN74BCT125ADG4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Dettagli |
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SN74BCT125ADR | Texas Instruments | IC BUS BUFF 3-ST QUAD 14SOIC | Dettagli |
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SN74BCT125AN | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14DIP | Dettagli |
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SN74BCT125ANSR | Texas Instruments | IC BUS BUFF 3-ST QUAD 14SO | Dettagli |
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SN74BCT126AD | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Dettagli |
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SN74BCT126ADE4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Dettagli |
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SN74BCT126ADG4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Dettagli |
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SN74BCT126ADR | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Dettagli |
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SN74BCT126ADRE4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Dettagli |
