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Zuhause › Produktkategorien › Integrierte Schaltungen (ICs) › Logik - Speziallogik › SN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT - Texas Instruments

Artikelnummer
SN74BCT8373ANT
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt Online-Ansicht
SN74BCT8373ANT PDF-Online-Browsing
Datenblatt PDF herunterladen
-
Kategorie
Logik - Speziallogik
Lieferzeit
1 Day
Datumscode
New
Bestandsmenge
3666 pcs
Referenzpreis
USD 0/pcs
Unser Preis
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SN74BCT8373ANT detaillierte Beschreibung

Artikelnummer SN74BCT8373ANT
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Befestigungsart Through Hole
Paket / Fall 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket 24-PDIP
Gewicht -
Ursprungsland -

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