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Accueil › catégories de produits › Circuits intégrés (CI) › Logique - Logique spécialisée › SN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT - Texas Instruments

Numéro d'article
SN74BCT8373ANT
Fabricant
Texas Instruments
Brève description
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique vue en ligne
SN74BCT8373ANT Navigation PDF en ligne
Fiche technique PDF Download
-
Catégorie
Logique - Logique spécialisée
Heure de livraison
1 Day
Code de date
New
Quantité en stock
3967 pcs
Prix ​​de référence
USD 0/pcs
Notre prix
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SN74BCT8373ANT Description détaillée

Numéro d'article SN74BCT8373ANT
État de la pièce Obsolete
Type de logique Scan Test Device with D-Type Latches
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
Type de montage Through Hole
Paquet / cas 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Package de périphérique fournisseur 24-PDIP
Poids -
Pays d'origine -

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