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ホーム › 製品カテゴリ › 集積回路（IC） › ロジック - 特殊ロジック › SN74BCT8240ADWRE4
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4 - Texas Instruments

品番
SN74BCT8240ADWRE4
メーカー
Texas Instruments
簡単な説明
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
鉛フリーステータス/ RoHSステータス
鉛フリー/ RoHS準拠
データシートのオンラインビュー
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データシートPDFダウンロード
-
カテゴリー
ロジック - 特殊ロジック
納期
1 Day
日付コード
New
在庫数量
4165 pcs
参考価格
USD 0/pcs
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SN74BCT8240ADWRE4 詳細な説明

品番 SN74BCT8240ADWRE4
部品ステータス Obsolete
ロジックタイプ Scan Test Device with Inverting Buffers
供給電圧 4.5 V ~ 5.5 V
ビット数 8
動作温度 0°C ~ 70°C
取付タイプ Surface Mount
パッケージ/ケース 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤデバイスパッケージ 24-SOIC
重量 -
原産国 -

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