SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4 - Texas Instruments

Artikelnummer
SN74BCT8240ADWRE4
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt Online-Ansicht
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-
Kategorie
Logik - Speziallogik
Lieferzeit
1 Day
Datumscode
New
Bestandsmenge
3822 pcs
Referenzpreis
USD 0/pcs
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SN74BCT8240ADWRE4 detaillierte Beschreibung

Artikelnummer SN74BCT8240ADWRE4
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
Gewicht -
Ursprungsland -

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