SN74LVTH182512DGGR - Texas Instruments

Numero di parte: SN74LVTH182512DGGR
fabbricante: Texas Instruments
Breve descrizione: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Stato senza piombo / Stato RoHS: Senza piombo / RoHS
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Categoria: Logici - Logica speciale
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Codice data: New
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Prezzo di riferimento: USD 4.29/pcs
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Numero di parte	SN74LVTH182512DGGR
Stato parte	Active
Tipo di logica	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensione di alimentazione	2.7 V ~ 3.6 V
Numero di bit	18
temperatura di esercizio	-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggio	Surface Mount
Pacchetto / caso	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore	64-TSSOP
Peso	-
Paese d'origine	-

Numero di parte	Produttori	Descrizione	vista
SN74LV00AD	Texas Instruments	IC GATE NAND 4CH 2-INP 14SOIC	Dettagli
SN74LV00ADBR	Texas Instruments	IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SSOP	Dettagli
SN74LV00ADBRG4	Texas Instruments	IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SSOP	Dettagli
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SN74LV00ADGVR	Texas Instruments	IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-TVSOP	Dettagli
SN74LV00ADR	Texas Instruments	IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC	Dettagli
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