SN74LVTH182512DGGR - Texas Instruments

Número de pieza: SN74LVTH182512DGGR
Fabricante: Texas Instruments
Breve descripción: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Estado sin plomo / Estado RoHS: Sin plomo / Cumple con RoHS
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Categoría: Lógica - Lógica de especialidades
El tiempo de entrega: 1 Day
Código de fecha: New
Cantidad de stock: 25000 pcs
Precio de referencia: USD 4.29/pcs
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Número de pieza	SN74LVTH182512DGGR
Estado de la pieza	Active
Tipo de lógica	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Voltaje de suministro	2.7 V ~ 3.6 V
Cantidad de bits	18
Temperatura de funcionamiento	-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje	Surface Mount
Paquete / caja	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor	64-TSSOP
Peso	-
País de origen	-

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