SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW - Texas Instruments

Numéro d'article
SN74ABT8952DW
Fabricant
Texas Instruments
Brève description
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique vue en ligne
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Fiche technique PDF Download
SN74ABT8952DW.pdf
Catégorie
Logique - Logique spécialisée
Heure de livraison
1 Day
Code de date
New
Quantité en stock
4321 pcs
Prix ​​de référence
USD 0/pcs
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SN74ABT8952DW Description détaillée

Numéro d'article SN74ABT8952DW
État de la pièce Obsolete
Type de logique Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package de périphérique fournisseur 28-SOIC
Poids -
Pays d'origine -

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