SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW - Texas Instruments

Artikelnummer
SN74ABT8952DW
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt Online-Ansicht
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Kategorie
Logik - Speziallogik
Lieferzeit
1 Day
Datumscode
New
Bestandsmenge
3937 pcs
Referenzpreis
USD 0/pcs
Unser Preis
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SN74ABT8952DW detaillierte Beschreibung

Artikelnummer SN74ABT8952DW
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 28-SOIC
Gewicht -
Ursprungsland -

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