| 品番 | SN74BCT8245ANT |
|---|---|
| 部品ステータス | Obsolete |
| ロジックタイプ | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| 供給電圧 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| ビット数 | 8 |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 取付タイプ | Through Hole |
| パッケージ/ケース | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| サプライヤデバイスパッケージ | 24-PDIP |
| 重量 | - |
| 原産国 | - |
| 画像 | 品番 | メーカー | 説明 | 見る |
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SN74BCT125AD | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | 詳細 |
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SN74BCT125ADG4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | 詳細 |
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SN74BCT125ADR | Texas Instruments | IC BUS BUFF 3-ST QUAD 14SOIC | 詳細 |
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SN74BCT125AN | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14DIP | 詳細 |
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SN74BCT126AD | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | 詳細 |
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SN74BCT126ADE4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | 詳細 |
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SN74BCT126ADG4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | 詳細 |
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SN74BCT126ADR | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | 詳細 |
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SN74BCT126ADRE4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | 詳細 |
