SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR - Texas Instruments

Numero di parte
SN74BCT8373ADWR
fabbricante
Texas Instruments
Breve descrizione
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Stato senza piombo / Stato RoHS
Senza piombo / RoHS
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Categoria
Logici - Logica speciale
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1 Day
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New
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SN74BCT8373ADWR Descrizione dettagliata

Numero di parte SN74BCT8373ADWR
Stato parte Obsolete
Tipo di logica Scan Test Device with D-Type Latches
Tensione di alimentazione 4.5 V ~ 5.5 V
Numero di bit 8
temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio Surface Mount
Pacchetto / caso 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore 24-SOIC
Peso -
Paese d'origine -

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