SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW - Texas Instruments

Numéro d'article
SN74ABT8646DW
Fabricant
Texas Instruments
Brève description
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique vue en ligne
SN74ABT8646DW Navigation PDF en ligne
Fiche technique PDF Download
-
Catégorie
Logique - Logique spécialisée
Heure de livraison
1 Day
Code de date
New
Quantité en stock
282 pcs
Prix ​​de référence
USD 11.54/pcs
Notre prix
Envoyer par email: [email protected]

Veuillez remplir le formulaire ci-dessous pour demander un devis pour SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW Description détaillée

Numéro d'article SN74ABT8646DW
État de la pièce Active
Type de logique Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package de périphérique fournisseur 28-SOIC
Poids -
Pays d'origine -

PRODUITS CONNEXES POUR SN74ABT8646DW