SN74BCT8374ADWRE4 - Texas Instruments

Número de pieza: SN74BCT8374ADWRE4
Fabricante: Texas Instruments
Breve descripción: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Estado sin plomo / Estado RoHS: Sin plomo / Cumple con RoHS
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Categoría: Lógica - Lógica de especialidades
El tiempo de entrega: 1 Day
Código de fecha: New
Cantidad de stock: 4212 pcs
Precio de referencia: USD 0/pcs
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Número de pieza	SN74BCT8374ADWRE4
Estado de la pieza	Obsolete
Tipo de lógica	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de suministro	4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits	8
Temperatura de funcionamiento	0°C ~ 70°C
Tipo de montaje	Surface Mount
Paquete / caja	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor	24-SOIC
Peso	-
País de origen	-

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