SN74BCT8240ANT - Texas Instruments

Número de pieza: SN74BCT8240ANT
Fabricante: Texas Instruments
Breve descripción: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Estado sin plomo / Estado RoHS: Sin plomo / Cumple con RoHS
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Categoría: Lógica - Lógica de especialidades
El tiempo de entrega: 1 Day
Código de fecha: New
Cantidad de stock: 3820 pcs
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Número de pieza	SN74BCT8240ANT
Estado de la pieza	Obsolete
Tipo de lógica	Scan Test Device with Inverting Buffers
Voltaje de suministro	4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits	8
Temperatura de funcionamiento	0°C ~ 70°C
Tipo de montaje	Through Hole
Paquete / caja	24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paquete de dispositivo del proveedor	24-PDIP
Peso	-
País de origen	-

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