SN74LVTH182646APM

SN74LVTH182646APM - Texas Instruments

Artikelnummer
SN74LVTH182646APM
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt Online-Ansicht
SN74LVTH182646APM PDF-Online-Browsing
Datenblatt PDF herunterladen
-
Kategorie
Logik - Speziallogik
Lieferzeit
1 Day
Datumscode
New
Bestandsmenge
1956 pcs
Referenzpreis
USD 13.366/pcs
Unser Preis
Senden Sie per E-Mail: [email protected]

Bitte füllen Sie das folgende Formular aus, um ein Angebot für anzufordern SN74LVTH182646APM

SN74LVTH182646APM detaillierte Beschreibung

Artikelnummer SN74LVTH182646APM
Teilstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Versorgungsspannung 2.7 V ~ 3.6 V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
Gewicht -
Ursprungsland -

VERWANDTE PRODUKTE FÜR SN74LVTH182646APM