| Artikelnummer | SN74BCT8244ANTG4 |
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| Teilstatus | Obsolete |
| Logiktyp | Scan Test Device with Buffers |
| Versorgungsspannung | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
| Befestigungsart | Through Hole |
| Paket / Fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Lieferantengerätepaket | 24-PDIP |
| Gewicht | - |
| Ursprungsland | - |
| Bild | Artikelnummer | Hersteller | Beschreibung | Aussicht |
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SN74BCT125AD | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Einzelheiten |
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SN74BCT125ADG4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Einzelheiten |
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SN74BCT125ADR | Texas Instruments | IC BUS BUFF 3-ST QUAD 14SOIC | Einzelheiten |
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SN74BCT125AN | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14DIP | Einzelheiten |
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SN74BCT125ANSR | Texas Instruments | IC BUS BUFF 3-ST QUAD 14SO | Einzelheiten |
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SN74BCT126AD | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Einzelheiten |
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SN74BCT126ADE4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Einzelheiten |
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SN74BCT126ADG4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Einzelheiten |
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SN74BCT126ADR | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Einzelheiten |
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SN74BCT126ADRE4 | Texas Instruments | IC BUS BUFF TRI-ST QD 14SOIC | Einzelheiten |
