SN74ABT18646PM

SN74ABT18646PM - Texas Instruments

Artikelnummer
SN74ABT18646PM
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt Online-Ansicht
SN74ABT18646PM PDF-Online-Browsing
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-
Kategorie
Logik - Speziallogik
Lieferzeit
1 Day
Datumscode
New
Bestandsmenge
622 pcs
Referenzpreis
USD 19.22/pcs
Unser Preis
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SN74ABT18646PM detaillierte Beschreibung

Artikelnummer SN74ABT18646PM
Teilstatus Active
Logiktyp Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)
Gewicht -
Ursprungsland -

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